HD-7000A双变频抗干扰介质损耗测试仪

产品简介
HD-7000A双变频抗干扰介质损耗测试仪采用复数电流法，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。

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更新时间：2025-03-21

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HD-7000A双变频抗干扰介质损耗测试仪

性能特点
1、HD-7000A双变频抗干扰介质损耗测试仪采用复数电流法，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。
2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得的数据。
3、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。
4、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。
5、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。
6、仪器测量度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。
7、设CVT测试功能，可实现CVT的自激法测试，无需外置附件，只需一次测量，C1,C2的电容和介损全部测出。
8、反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象。
9、具有反接线低压屏蔽功能，在220kV CVT 母线接地情况下，对C11 可进行不拆线10kV 反接线介损测量
10、具有测量高电压介损功能，能够使用高压变压器或串联谐振进行超过10kV电压的介损试验。
12、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
13、触电保护功能，当仪器操作人员不小心触电时候，仪器会立即切断高压，试验人员的安全.
技术指标
度：   Cx:       ±（读数×1%+1pF）
tgδ:   ±（读数×1%+0.00040）
抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述度
电容量范围：   内施高压：   3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV
外施高压：   3pF～1.5μF/10kV       60pF～30μF/0.5kV
分辨率： 0.001pF，4位有效数字
tgδ范围：   不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围：10μA～1A
内施高压：   设定电压范围：0.5～10kV
输出电流：200mA
升降压方式：连续平滑调节
试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频
频率精度：   ±0.01Hz
外施高压：   正接线时试验电流1A，工频或变频40-70Hz
反接线时试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz
CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A
CVT变比测量：
变比测量精度：±读数×1%     变比测量范围：10～99999
相位测量精度：±0.1°           相位测量范围：0～359.9°
测量时间：   约40s，与测量方式有关
输入电源：   180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电
计算机接口：   标准RS232接口
打印机：       炜煌A7热敏微型打印机
环境温度：   -10℃～50℃
相对湿度：   <90%
外形尺寸：460×360×350mm
仪器重量：28kg